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英偉達CEO:Blackwell芯片設計缺陷已修復,預計Q4發(fā)貨

2024-10-24 10:10:59

每經(jīng)AI快訊,英偉達首席執(zhí)行官黃仁勛周三表示,在臺積電的幫助下,英偉達最新款Blackwell AI芯片的設計缺陷已得到修復,該缺陷此前曾影響生產(chǎn)。他表示,“我們在Blackwell有一個設計缺陷,它是功能性的,但設計缺陷導致良品率很低。這100%是英偉達的錯。”在最近的高盛會議上,他曾透露這些芯片將在第四季度發(fā)貨。(第一財經(jīng))

責編 張喜威

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