新三板創(chuàng)新層公司晟矽微電新增專利信息授權(quán)：“芯片測(cè)試裝置”

每經(jīng)訊，據(jù)啟信寶，新三板創(chuàng)新層公司晟矽微電（430276）新增專利信息，專利權(quán)人為晟矽微電，發(fā)明人是吳驍、于宏新、張文榮。專利授權(quán)日為2022年1月21日，專利名稱為“芯片測(cè)試裝置”，專利類型為中國(guó)實(shí)用新型專利，專利申請(qǐng)?zhí)枮镃N202121357360.9。

該專利摘要顯示：本實(shí)用新型涉及一種芯片測(cè)試裝置，所述裝置包括控制模塊、測(cè)試模塊，控制模塊根據(jù)控制信息實(shí)現(xiàn)對(duì)測(cè)試模塊的控制，以使得測(cè)試模塊對(duì)連接的至少一個(gè)待測(cè)芯片進(jìn)行測(cè)試；測(cè)試模塊，包括處理單元、測(cè)試單元、接口單元、供電及復(fù)位單元，處理單元用于與所述控制模塊、測(cè)試單元及供電及復(fù)位單元通信，通過測(cè)試單元及接口單元將測(cè)試程序?qū)懭氪郎y(cè)芯片并根據(jù)控制程序執(zhí)行相應(yīng)的測(cè)試，供電及復(fù)位單元通過開關(guān)單元選擇第一單元、第二單元、第三單元、第四單元的任意一個(gè)或多個(gè)的輸出電壓對(duì)測(cè)試模塊和/或待測(cè)芯片供電。本實(shí)用新型實(shí)施例可以對(duì)至少一個(gè)待測(cè)芯片進(jìn)行快速、自動(dòng)、準(zhǔn)確測(cè)試，得到清晰、可靠的測(cè)試結(jié)果，人工干預(yù)少，成本低，效率高。

(記者 湯輝)

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