新三板創(chuàng)新層公司宇迪光學(xué)新增專利信息授權(quán)：“一種鏡頭穿透光譜量測(cè)裝置”

每經(jīng)訊，據(jù)啟信寶，新三板創(chuàng)新層公司宇迪光學(xué)（831934）新增專利信息，專利權(quán)人為宇迪光學(xué)，發(fā)明人是錢敏、李楊、徐霖。專利授權(quán)日為2024年1月23日，專利名稱為“一種鏡頭穿透光譜量測(cè)裝置”，專利類型為中國(guó)實(shí)用新型專利，專利申請(qǐng)?zhí)枮镃N202322010108.6。

該專利摘要顯示：本實(shí)用新型公開(kāi)了一種鏡頭穿透光譜量測(cè)裝置，涉及鏡頭光譜量測(cè)設(shè)備技術(shù)領(lǐng)域，包括底板、可沿底板長(zhǎng)度方向移動(dòng)并垂直連接于底板上的鏡頭擋光板，還包括與鏡頭擋光板相配合的呈拱形結(jié)構(gòu)的鏡頭卡板，所述鏡頭卡板的下方可拆卸式連接有用于帶動(dòng)其旋轉(zhuǎn)和前后左右位移的帶刻度調(diào)節(jié)機(jī)構(gòu)，所述帶刻度調(diào)節(jié)機(jī)構(gòu)可拆卸式連接于底板上。本實(shí)用新型大幅度地提升了量測(cè)精度，提高了鏡頭拿取時(shí)的便捷性，并兼顧滿足了多角度量測(cè)的需求，實(shí)現(xiàn)了小口徑鏡頭穿透光譜的量測(cè)，提高了整體的實(shí)用性。

(記者 曾健輝)

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