新三板創(chuàng)新層公司攸特電子新增專利信息授權(quán)：“用于元器件性能測試的多功能測試治具”

每經(jīng)訊，據(jù)啟信寶，新三板創(chuàng)新層公司攸特電子（873111）新增專利信息，專利權(quán)人為攸特電子，發(fā)明人是王露云、蘇相河、易志福、鄭鴻斌、張碧星、權(quán)鵬。專利授權(quán)日為2023年7月14日，專利名稱為“用于元器件性能測試的多功能測試治具”，專利類型為中國實用新型專利，專利申請?zhí)枮镃N202223301961.5。

該專利摘要顯示：本實用新型涉及測試治具技術(shù)領(lǐng)域，具體是一種適用于元器件的多功能測試治具，包括底板及檢測部件，檢測部件包括附帶測試探針的第一檢測機構(gòu)、第二檢測機構(gòu)與第三檢測機構(gòu)，三個檢測機構(gòu)分別用于不同測試，底板上安裝有測試臺，測試臺上安裝有支架，第一檢測機構(gòu)與第二檢測機構(gòu)安裝于支架上且位于測試臺上方，測試臺頂部設(shè)有若干個測試銅條，第三檢測機構(gòu)安裝于底板上且位于測試臺長度方向一側(cè)，三個檢測機構(gòu)的測試探針分別與外部三個不同測試設(shè)備電性連接，本實用新型在進行產(chǎn)品測試時，用戶只需將產(chǎn)品放置一次，即可完成對產(chǎn)品的多項性能測試，無需多次取放產(chǎn)品，節(jié)省測試時間，提高測試效率。

(記者 曾健輝)

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