2020-11-20 11:31:24
記者從正業(yè)科技獲悉，目前對于半導體的缺陷檢測，大多是采取單機X光成像設備，用人工目檢的方式進行抽檢，而人工目檢的方式已經(jīng)成了行業(yè)發(fā)展的絆腳石。針對這一行業(yè)痛點，公司和國內(nèi)知名半導體公司已開展合作，開發(fā)全新的自動檢測解決方案，頂替進口單機設備，填補行業(yè)空白。經(jīng)過項目組的努力，目前已經(jīng)取得突破性進展，半導體芯片缺陷自動檢測技術的識別功能及關鍵檢測指標已得到客戶的認可，即將推出自動檢測設備。（e公司）
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